智能自動型薄膜測厚儀 智能薄膜測厚儀

薄膜自動測厚儀適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片等各種材料厚度的精確測量。
薄膜自動測厚儀特征：
1、機械接觸式測量方法不受測量材料的限制，兼容ISO、ASTM 等多種測量標準
2、進口優質部件選擇，成熟經驗設計
3、測量精確、運行可靠，測量分辨率高達0.1微米
4、支持手動、自動雙重測量模式
5、自動進樣系統標準配置，試樣測試長度不受限制，真正實現了自動、連續測量
6、自動進樣間距、測量點數、進樣速度等參數可調，可更好地滿足用戶的統計分析需求
7、測量數據高清晰大屏幕液晶顯示，試驗數據一目了然
8、測量過程即時顯示zui大值、zui小值、平均值和統計偏差
9、設備造形美觀大方新穎別致，符合人機工程學原理
10、標準RS232通信端口配置，可接駁計算機
11、專業軟件配置，數據起伏曲線、偏差圖 、圓形坐標圖等模式顯示，統計功能直觀、全備

13、預留了網絡傳輸接口，支持TCP/IP等協議，可實現測試數據在局域網與互聯網之間的信息共享
智能自動型薄膜測厚儀 智能薄膜測厚儀薄膜自動測厚儀技術參數：
1、測量范圍：0～2mm（0～6mm可選）
2、分 辨 率：0.1μm
3、測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）； 　標準配置
50±1kPa（紙張）　 可選配置
接觸面積：50mm2（薄膜）； 標準配置
200mm2（紙張） 可選配置
4、自動進樣間距：1～1000mm
5、自動進樣速度：0.1～99.9mm/s
6、電 源：AC 220V 50Hz
7、外形尺寸：451（L）mm×329（B）mm×347（H）mm
8、凈 重：32kg
薄膜自動測厚儀執行標準：
GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS3983、BS4817

產品名稱：光學象限儀 產品型號：GX-I

光學象限儀 型號：GX-I
產品簡介：光學象限儀是用于測量按規定角度裝定之平面或管、軸對于水平之間的傾斜角及裝置角的儀器.由于其使用方便、性能穩定、精度高等特點、已廣泛地用于造船業、軍工、航空、制造業及大型機器的安裝。 
 產品型號及技術參數見附表：